Abstract

A utilização de corpos revestidos a tensões de contato tem sido uma opção importante na redução do desgaste superficial em uma vasta gama de corpos sujeitos a um carregamento de contato. Nestas situações , mecanismos de falha ocorrem, geralmente, porr tres diferentes motivos. Escoamento plástico excesivo, fratura ou delaminação do recvestimento do seu substrato. Neste trabalho, procedeu-se uma análise bidimensional da distribuição das tensões de contato que surgem quando um semiplano revestido é submetido a carragamentos normal e tangencial aplicados por un indentador elástico e cilíndrico. O cálculo das tensões foi feito utilizando-se o Método dos Elementos Finitos. Considerou-se uma Interface perfeita e contínua entre o substrato e o revestimento. Tres tipos de materiais foram usados como revestimentos. Bronze, ceramica (SiC) e aço. Este último na validação do modelo proposto. Os resultados foram utilizados para se investigar a influencia na posição dos máximos valores da tensão de Mises e da primeira tensão principal, quando se variam os parámetros: i) espessura da camada de revestimento; ii) coeficiente de atrito; iii) propriedades mecanicas do material. Os resultados mostram que a posição dos pontos críticos é influenciada pelos dois primeiros parámetros analisados. Verificou-se um deslocamento da posição do ponto crítico da interface do revestimento em direção à superficie de contato, enquanto se aumentam ou o coeficiente de atrito ou a espessura de camada, mantendo-se os demais parámetros constantes, nos revestimentos dúteis-bronze e aço. Para o revestimento frágil (Sic),observou-se que o ponto crítico ocorre sempre na superficie de contato e que há uma espessura ótima de revestimento.

Full document

The PDF file did not load properly or your web browser does not support viewing PDF files. Download directly to your device: Download PDF document
Back to Top

Document information

Published on 01/01/07
Accepted on 01/01/07
Submitted on 01/01/07

Volume 23, Issue 1, 2007
Licence: CC BY-NC-SA license

Document Score

0

Views 2
Recommendations 0

Share this document

claim authorship

Are you one of the authors of this document?