https://www.scipedia.com/wd/index.php?action=history&feed=atom&title=Diaz-Perez_De-Moya-Anegon_2008a 2026-04-19T17:39:37Z Revision history for this page on the wiki MediaWiki 1.27.0-wmf.10 https://www.scipedia.com/wd/index.php?title=Diaz-Perez_De-Moya-Anegon_2008a&diff=125071&oldid=prev 2019-04-05T14:36:12Z

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<p>Created page with &quot; == Resumen == La aplicación de análisis métrico a la información contenida en los documentos de patentes se ha convertido en una de las principales técnicas que permite...&quot;</p> <p><b>New page</b></p><div><br /> == Resumen ==<br /> <br /> La aplicación de análisis métrico a la información contenida en los documentos de patentes se ha convertido en una de las principales técnicas que permiten modelar los escenarios tecnológicos de países, empresas, institutos de investigación, proyectos, etc. La presente investigación propone la utilización de indicadores bibliométricos a las patentes, identificando patrones y tendencias a partir de la evidencia tecnológica disponible así como detectar posibles redes sociales innovadoras encubiertas, permitiendo tomar decisiones oportunas si la investigación lo requiere. Utilizamos un caso práctico para mostrar a través de sus resultados estos planteamientos, analizando la base de datos de las patentes de EUA, procesándola con una herramienta desarrollada por la Universidad de Pinar del Río, utilizando sólo ocasionalmente el software Ucinet para representar las redes sociales existentes. Esto permite llegar a resultados que demuestran la aplicabilidad de los estudios patentométricos en la ejecución de proyectos de investigación, permitiendo reorientar los objetivos de la misma.<br /> <br /> == Texto completo ==<br /> &lt;pdf&gt;Media:Draft_Content_285495802-38310-2525-document.pdf&lt;/pdf&gt;</div>

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